机型

6505B

6510B

6515B

6520B

6530B

6550B

65120B

频率

20Hz~5MHz

20Hz~10MHz

20Hz~15MHz

20Hz~20MHz

20Hz~30MHz

20Hz~50MHz

20Hz~120MHz

测试参数

L（电感）、Q（品质因素）、D（消耗因素）、C（电容）、Z（阻抗）、X（电抗）、ACR（交流电阻）、θ（相位角）、Y（导纳）、G（电导）、 B（电纳）

参数范围

Z, R, X:  0.01m > 2GΩ

G, Y, B:  0.01mS ~ >2kS

L:  0.1nH ~ > 2kH

C:  1Ff ~ >1F

D:  0.00001 ~ >1000； Q:  0.00001 ~ >1000

θ:  -180^o~+180^o

电平

10mV~1Vrms; 200μA~20mA

输出阻抗

50Ω

直流叠加

内置偏压：0~100mV/0 ~ +40V; -40V ~ +40V（选配）

外加偏电流：1mA ~ 80A(选配)

测试模式

电表模式（测试值显示）/ 分析模式（扫描曲线）

谐振频率测试

测试值 / 偏差值

测试值下载 / CSV格式

等效电路分析测试（选配）WK65120B为标配

绝缘材料介电常数测试和磁性材料磁导率测试

分类挑选（选配） / 多步骤测试（选配） / 震荡器 / 压电组件测试（选配）

通信接口

GPIB, LAN, Handler / PASS, FAIL（选配）

内存

20组

温湿度

温度0℃~40℃（操作）,-20℃~60℃（储存），湿度>80%

输入电压

使用电源90~264Vac（可自动切换），频率47~63Hz

标准配件

操作手册，电源线，1J1011测试夹具或1J1012测试夹具，U盘

选配

/M Multi Measurement Mode（多步测量模式）

/B2 Binning Opto-Coupled（光藕分选）

/L Data Logger Mode（数据记录模式）

/D1 0 ~+40Vdc bias（内置）

/E Equivalent Circuit Analysis（等效电路分析）

/D2 -40V ~+40Vdc bias（内置）

/B1 Binning（分选）

订购65120B可附赠选配D1/D2其中之一

1J1012  SMD二线式测试治具

5-654-7010 Transfer Standard Kit-Dip（插件式校准件）

1J1014  SMD四线式测试治具

5-654-7011 Transfer Standard Kit-SMD（SMD标准件）

1EVA40120 SMD镊子式测试治具

尺寸/净重量

尺寸(mm)190/H×440/W×525/D    净重量14.5Kg