CS-3000系列半导体特性分析仪
    发布时间: 2019-11-15 21:23    

适用于IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体特性测试的标准型号

最大峰值电压3,000V(高压模式)

最大峰值电流1,000ACS-3300大电流模式)

全型号标配LEAKAGE模式(游标分辨率1pA

UL/CE认证

CS-3300 1,000AHC脉冲模式)

CS-3200 400AHC脉冲模式)

CS-3100 (无HC模式)

CS-3000系列半导体特性分析仪

集电极电源 HV模式

机型

CS-3000系列共通

模式/极性

全波整流/+-、 DC/+-、 LEAKAGE/+-、 AC

最大峰值

电流/脉冲电流/电压

75mA / 150mA / 3kV

750mA / 1.5A / 300V

7.5A / 15A / 30V

最大峰值功率

120mW / 1.2W / 12W / 120W / 390W**最大峰值电压3kV时不能使用)

水平轴量程

50mV500V/div



集电极电源 HC模式(CS-3100HC模式)

机型

CS-3100

CS-3200

CS-3300

HC

 

模式/极性

-

Pulse+

最大峰值

电流/功率/电压

HC模式为配载

400A / 4kW / 40V

40A / 400W / 40V

1000A / 10kW / 40V

400A / 40kW / 40V

40A / 400W / 40V

脉宽

-

脉宽在50μs~400μs10μs分辨率)范围可调整

测试点

-

可指定测试点(10μ分辨率)

垂直轴量程

-

100mA50A/div

100mA100A/div

测试台

CS-301

CS-302