CS-5000系列半导体特性分析仪
发布时间: 2019-11-15 21:44
适用于无论大小容量的IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体的特性测试
最适合于测试耐压3,300V的功率模块的衰减特性
最大峰值电压5,000V（高压模式）
最大峰值电流1,500A（CS-5400大电流模式)
全型号标配LEAKAGE模式（游标分辨率1pA）
UL/CE认证
CS-5400 1,500A（HC脉冲模式）
CS-5300 1,000A（HC脉冲模式）
CS-5200 400A（HC脉冲模式）
CS-5100 （无HC模式）
集电极电源 HV模式
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机型
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CS-5000系列共通
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模式/极性
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全波整流/+－、 DC/+－、 LEAKAGE/+－、 AC
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最大峰值
电流/脉冲电流/电压
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25mA / 25mA / 5kV
750mA / 1.5A / 300V
7.5A / 15A / 30V
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最大峰值功率
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5kV时：320mW/3.2W/32W 30V,300V时：120mW/1.2W/12W/120W/390W
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水平轴量程
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50mV～500V/div
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集电极电源 HC模式（CS-5100无HC模式）
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机型
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CS-5100
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CS-5200
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CS-5300
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CS-5400
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HC
模
式
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模式/极性
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-
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Pulse／+－
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最大峰值
电流/功率/电压
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HC模式为配载
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400A / 4kW / 40V
40A / 400W / 40V
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1000A / 10kW / 40V
400A / 40kW / 40V
40A / 400W / 40V
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1500A / 12kW / 30V
600A / 4.5kW / 30V
60A / 450W / 30V
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脉宽
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-
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脉宽在50μs~400μs（10μs分辨率）范围可调整
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测试点
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-
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可指定测试点（10μ分辨率）
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垂直轴量程
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-
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100mA～50A/div
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100mA～100A/div
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100mA～200A/div
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测试台
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CS-303
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CS-304
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